title: Building a sequence of test signals for combinational digital circuits and circuits with memory
metadata.name: dc.contributor.advisor
metadata.value: Антонов Владимир Владимирович
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.advisor
metadata.value: Antonov Vladimir Vladimirovic
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.contributor.author
metadata.value: Гусев Олег Александрович
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.author
metadata.value: Gusev Oleg Aleksandrovic
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.contributor.editor
metadata.value: Овсянников Дмитрий Александрович
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.editor
metadata.value: Ovsannikov Dmitrij Aleksandrovic
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.date.accessioned
metadata.value: 2021-03-24T15:07:55Z
metadata.lang: -
metadata.name: dc.date.available
metadata.value: 2021-03-24T15:07:55Z
metadata.lang: -
metadata.name: dc.date.issued
metadata.value: 2019
metadata.name: dc.identifier.other
metadata.value: 033202
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.identifier.uri
metadata.value: http://hdl.handle.net/11701/25747
metadata.lang: -
metadata.name: dc.description.abstract
metadata.value: Рассмотрены основные этапы развития электроники и схемотехники, проанализированы современные методы тестирования радиоэлектронных устройств. 
  В работе подробно рассмотрены, а также выполнены на примере реального электронного устройства, этапы функционального метода тестирования: создана программная модель отдельных компонентов и самого устройства объекта контроля, найдена проверяющая тестовая последовательность, выполнена эмуляция теста. Произведен анализ полученной тестовой программы.
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.description.abstract
metadata.value: The main stages of development of electronics and circuitry were considered, modern methods of testing of radio electronic devices were analyzed. 
  The paper considers in detail and also performed on the example of a real electronic device, the stages of the functional test method: a software model of individual components and the control object device itself was created, checking test sequence was found, the test was emulated. Created testing program was analyzed.
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.language.iso
metadata.value: ru
metadata.name: dc.subject
metadata.value: тестирование
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: схемотехника
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: объект контроля
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: цифровое устройство
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: микросхема
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: testing
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: circuitry
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: control object
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: digital device
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: microcircuit
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.title
metadata.value: Building a sequence of test signals for combinational digital circuits and circuits with memory
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.title.alternative
metadata.value: Построение последовательности тестовых сигналов для комбинационных цифровых схем и схем с памятью
metadata.lang: ru_RU
resources.filename: diplom.pdf
resources.url: https://dspace.spbu.ru/bitstream/11701/25747/1/diplom.pdf
resources.format: Adobe PDF
resources.description: Article
resources.size: 2,61 MB
resources.filename: reviewSV_Otzyv_Gusev.pdf
resources.url: https://dspace.spbu.ru/bitstream/11701/25747/2/reviewSV_Otzyv_Gusev.pdf
resources.format: Adobe PDF
resources.description: ReviewSV
resources.size: 119,52 kB