title: Test check of digital  devices
metadata.name: dc.contributor.advisor
metadata.value: Овсянников Дмитрий Александрович
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.author
metadata.value: Нуракунов Алишер
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.author
metadata.value: Nurakunov Alisher
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.contributor.editor
metadata.value: доктор физико-математических наук, профессор  Д.А. Овсянников
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.contributor.editor
metadata.value: Doctor of Physics and Mathematics, Professor D.A. Ovsiannikov
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.date.accessioned
metadata.value: 2016-10-10T02:16:24Z
metadata.lang: -
metadata.name: dc.date.available
metadata.value: 2016-10-10T02:16:24Z
metadata.lang: -
metadata.name: dc.date.issued
metadata.value: 2016
metadata.name: dc.identifier.other
metadata.value: 022066
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.identifier.uri
metadata.value: http://hdl.handle.net/11701/4765
metadata.lang: -
metadata.name: dc.description.abstract
metadata.value: 21 век – век научно-технического прогресса. Все научные достижения так или иначе связаны с техникой, разного рода микросхемами и чипами.  Человечество движется в сторону автоматизации всех возможных процессов. Одной из первых отраслей, где была применена автоматизация, можно по праву назвать серийное производство. Серийное производство подразумевает изготовление продукта в огромных количествах ежедневно. И несмотря на то, что процесс производства почти полностью автоматизирован, присутствует доля брака. Проблема диагностики и контроля за качеством продукта является одной из самых актуальных проблем в данной области. В настоящее время для ее решения используются разные средства и методы диагностики, позволяющие осуществить проверку функциональности микросхемы и локализацию неисправности. В данной работе были описаны метод функционального тестирования и этапы разработки тест-программы в рамках этого метода.  Для создания тест-программы были изучены следующие программные средства: язык описания электронных устройств Verilog HDL, мультиплатформенная программная  среда Altera Quartus II и система автоматического проектирования тестов SimTest. Данные программные средства были применены для разработки тестовой программы, результаты моделирования тестовой программы приведены на примере реальной схемы.
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.description.abstract
metadata.value: 21st century - the century of scientific and technological progress. All scientific achievements are somehow connected with technology, all sorts of microschemes and chips. Humanity is moving towards automation of all possible processes. Mass production is one of the first industries where automation has been applied. Mass production involves the manufacture of the product in large quantities on a daily basis. And despite the fact that the production process is almost completely automated, there is always a certain amount of defects. The problem of quality diagnostics and control of the product is one of the most actual problems in this area. Nowadays different devices and methods of diagnosis are used to solve this problem, allowing to verify the functionality of the chip and the localization of the defects(faults). In this bachelor research paper a method of functional testing and stages of the development of the test program are described. To create a test program following software has been worked through: hardware description language Verilog HDL, multi-platform software environment Altera Quartus II and the system of the automated design of tests SimTest. These software tools were used to develop the test program, the results of the simulation of the test program are shown using the real circuit.
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.language.iso
metadata.value: ru
metadata.name: dc.subject
metadata.value: тест
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: контроль
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: моделирование
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: цифровая диагностика
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: система автоматизированного проектирования тестов
metadata.lang: ru_RU
metadata.name: dc.subject
metadata.value: test
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: check
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: simulation
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: digital diagnostics
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.subject
metadata.value: system of the automated design of tests
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.title
metadata.value: Test check of digital  devices
metadata.lang: en_GB
metadata.name: dc.title.alternative
metadata.value: Тестирование цифровых устройств
metadata.lang: ru_RU
resources.filename: Diplom.pdf
resources.url: https://dspace.spbu.ru/bitstream/11701/4765/1/Diplom.pdf
resources.format: Adobe PDF
resources.description: Article
resources.size: 879,91 kB
resources.filename: reviewSV_st002549_Ovsyannikov_Dmitrij_Aleksandrovich_(supervisor)(Ru).txt
resources.url: https://dspace.spbu.ru/bitstream/11701/4765/2/reviewSV_st002549_Ovsyannikov_Dmitrij_Aleksandrovich_%28supervisor%29%28Ru%29.txt
resources.format: Text
resources.description: ReviewSV
resources.size: 2,81 kB
resources.filename: reviewSV_st002549_Ovsyannikov_Dmitrij_Aleksandrovich_(reviewer)(Ru).txt
resources.url: https://dspace.spbu.ru/bitstream/11701/4765/6/reviewSV_st002549_Ovsyannikov_Dmitrij_Aleksandrovich_%28reviewer%29%28Ru%29.txt
resources.format: Text
resources.description: ReviewRev
resources.size: 2,9 kB